La microscope à rayons X dévoile les secrets cachés du nanomonde
Un nouveau microscope à rayons X super-résolvant mis au point en Suisse par une équipe de chercheurs de l'institut Paul Scherrer (PSI) et de l'EPFL, associe la forte capacité de pénétration des rayons X à la haute résolution spatiale, permettant ainsi pour la première fois d'expliquer en détail la composition interne de dispositifs semi-conducteurs et de structures cellulaires. Selon le professeur Franz Pfeiffer de l'EPFL et directeur de l'équipe de recherche, les chercheurs ont travaillé pendant de nombreuses années sur de tels concepts de microscopie super-résolvante pour les électrons et les rayons X. Seule la construction d'un instrument dédié de plusieurs millions de francs suisses au Swiss Light Source du PSI a permis d'atteindre la stabilité nécessaire à la mise en pratique d'une nouvelle méthode. Ce nouvel instrument utilise un détecteur Megapixel Pilatus dont le grand frère détecte les collisions de particules au Large Hadron Collider du CERN. Images détaillées grâce à un algorithme suisse Pilatus a enthousiasmé la communauté des utilisateurs de synchrotron par sa capacité à compter des millions de photons X individuels sur une large surface. Cette caractéristique essentielle permet d'enregistrer des motifs de diffraction détaillés en balayant l'échantillon sous le point focal du faisceau, contrairement aux microscopes à rayons X (ou électroniques) conventionnels à balayage ne mesurant que l'intensité totale transmise. Ces figures de diffraction sont ensuite exploitées au moyen d'un algorithme élaboré par l'équipe suisse.
